Varredura Z

Fonte: testwiki
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A técnica de varredura Z (em inglês z-scan) é uma técnica simples e sensível, amplamente utilizada para a medida do sinal e da magnitude das propriedades ópticas não lineares de materiais. Foi proposta em 1989[1] por Mansoor Sheik-bahae, Ali A. Said, e Eric W. Van Stryland no Centro de Pesquisa e Educação em Óptica e Lasers (CREOL), Universidade da Flórida Central.

Em particular, é utilizada para a caracterização do índice de refração não linear n2 (efeito kerr óptico) e o coeficiente de absorção não linear Δα, por meio das configurações fechada e aberta, respectivamente. Os fenômenos típicos de absorção não linear envolvem, por exemplo, a absorção de dois fótons e a saturação de absorção. Uma vez que a absorção não linear pode interferir na medida do índice de refração não linear, a configuração aberta é geralmente usada em conjunto com a configuração fechada, a fim de calcular o valor correto de n2.[2]

A técnica consiste em deslocar uma amostra fina ao longo da direção de propagação de um feixe laser, focalizado e com perfil transversal gaussiano, enquanto a radiação transmitida por esta é detectada no regime de campo distante. A amostra é movimentada em torno da região focal, que define a posição z=0. À medida que que amostra é aproximada do ponto focal a intensidade da radiação aumenta, pois há redução da área iluminada. Desse modo, fenômenos ópticos não lineares são estimulados e, portanto, o índice de refração e o coeficiente de absorção da amostra são descritos, respectivamente, por:[3]

n=n0+n2I
α=α0+ΔαI

em que n0 corresponde ao índice de refração linear e α0 ao coeficiente de absorção linear. Como a amostra experimenta o valor máximo de intensidade no ponto focal da lente, propriedades ópticas não lineares são estimuladas em torno dessa região.

O nome varreduza Z se deve ao fato da amostra ser deslocada ao longo da direção de propagação do feixe. Essa direção é usualmente definida como eixo z^ pela descrição matemática usual.

Princípios experimentais

Um feixe laser pulsado e com perfil transversal gaussiano é focalizado, definindo no foco a posição z=0. Uma amostra é então deslocada ao longo do eixo de propagação, em torno da região focal. À cada posição da amostra, a luz transmitida por esta é direcionada a um detector e um programa de aquisição registra a intensidade luminosa em função da posição z desta. A transmitância em cada posição é então normalizada por um valor de referência. Este pode ser tanto o sinal proveniente de um detector de referência, obtido adicionando um divisor de feixe anterior à lente de colimação, de forma que esse sinal é independente da posição da amostra. Outra possibilidade é utilizar o valor da transmitância em uma posição distante do foco, onde ocorrem apenas efeitos lineares. Em ambos os casos, variações do valor da transmitância normalizada TN com relação à unidade são devidas apenas aos fenômenos não lineares.

Configuração fechada

Na configuração fechada, uma íris é posicionada em frente ao detector de modo que apenas uma fração da luz transmitida é captada por esse. Essa configuração experimental é sensível a mudanças na refração da amostra, permitindo a determinação do índice de refração não linear n2.

A técnica de varredura-Z na configuração fechada é baseada no fenômeno de autofocalização, isso é, quando um feixe com perfil gaussiano incide sobre uma amostra com n20 há a formação de um gradiente transversal de índice de refração. Assim, a amostra se comporta como uma lente convergente se n2>0 ou divergente caso n2<0.

Supondo que um material com n2>0 seja posicionado em z<0, longe da região focal, não ocorrem fenômenos não lineares, uma vez que a intensidade luminosa é baixa. Desse modo, a transmitância normalizada é unitária. Quando a amostra se aproxima do foco ainda em z<0, o aumento da intensidade resulta no efeito de autofocalização. Como a amostra se comporta como uma lente convergente, o feixe é focalizado em uma posição anterior a que estava quando existiam apenas fenômenos lineares, resultando em um feixe com maior área na região do detector e em uma diminuição na intensidade transmitida. Por outro lado, para a amostra na região z>0, o feixe é focalizado em uma posição posterior, diminuindo sua área sobre a íris e, consequentemente, aumentando a transmitância. Em z=0, há um efeito análogo ao de posicionar uma lente delgada na região de foco de outra lente. Para z>0, distante do foco, os fenômenos não lineares deixam de ocorrer e, novamente, TN=1.

Caso a amostra utilizada possua não linearidade negativa, os fenômenos descritos terão efeitos contrários, aumentando a transmitância para z negativo e diminuindo para z positivo.

A transmitância medida pelo detector em função da posição da amostra depende, portanto, da magnitude e do sinal de n2.

Para uma amostra puramente refrativa, ou seja, que não apresenta absorção não linear, a relação entre a transmitância normalizada TN e a posição z da amostra é dada pelo modelo de Sheik-bahae:[1][4]

TN(z)=1+8πλn2I0lef(z/z0)[1+(z/z0)2][9+(z/z0)2],

em que λ é o comprimento de onda da radiação incidente, I0 corresponde à intensidade do laser no foco e no eixo, lef=[1exp(α0l)]/α0 é a espessura efetiva da amostra e z0 é o comprimento de Rayleigh.

Configuração aberta

O arranjo experimental referente à configuração aberta é semelhante àquele descrito para a configuração fechada. Contudo, nesse caso a íris é removida e uma segunda lente convergente é posicionada entre a amostra e o detector. Essa configuração é sensível a alterações na absorção da radiação, de forma que o coeficiente de absorção de não linear Δα pode ser determinado.

Apenas quando a amostra está próxima do foco há densidade de fótons suficientemente grande para estimular efeitos não lineares. Quando o fenômeno de absorção de dois fótons é o mecanismo responsável pela alteração na absorção, o resultado típico de experimentos de varredura-Z na configuração aberta corresponde a um vale em torno da posição z=0. Por outro lado, caso o mecanismo seja a saturação de absorção, a curva corresponde a um pico em torno da posição focal.

Na configuração aberta, a relação entre a transmitância normalizada TN e a posição z da amostra dada pelo modelo de Sheik-bahae[1][4] é:

TN(z)=1πq0(z,0)ln[1+q0(z,0)exp(τ2)]dτ,

em que q0(z,0)=ΔαI0lef1+(z/z0)2, I0 corresponde à intensidade no foco e no eixo, lef=[1exp(α0l)]/α0 é a espessura efetiva da amostra e z0 é o comprimento de Rayleigh.

Fundamentos teóricos

A dependência espacial da intensidade I de um feixe com perfil transversal gaussiano é dada por:

I(r,z)=I0(w0w(z))2exp(2r2w2(z))

em que r é a distância radial ao eixo central do feixe, I0 corresponde à intensidade no foco e no eixo, w(z) ao raio do feixe na posição z e w0=w(z=0) é a cintura do feixe. O raio do feixe em função da posição z é:

w(z)=w01+(zz0)2

em que z0 é o comprimento de Rayleigh.

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